Ионно-плазменная обработка поверхности контактов герконов: исследования методом масс-спектрометрии вторичных ионов

Ионно-плазменная обработка поверхности контактов герконов: исследования методом масс-спектрометрии вторичных ионов

02.10.2013

Времяпролетный масс-спектрометр вторичных ионов TOF.SIMS-5, работающий с импульсным аналитическим пучком ионов Bi+ с энергией 25 кэВ и распыляющим пучком ионов Cs+ с энергией 2 кэВ, использовался для изучения состава приповерхностных слоёв контактов из железно-никелевого сплава (пермаллоя) после их обработки в импульсной азотной плазме непосредственно в герметизированных приборах. В области перекрытия контактов (рабочей области) было обнаружено образование окси-нитридного покрытия толщиной 20-25 нм. Установлено, что это покрытие имеет диффузионный характер и его происхождение связано преимущественно с процессами ионного азотирования.


← К списку публикаций

 

Система менеджмента качества сертифицирована DIN EN ISO 9001-2008 № 15 100 21437

В составе холдинга Росэлектроника

«Горячая линия» - система сбора информации для борьбы с мошенничеством, хищениями и коррупцией

Новости

27.10.2017

"Неделя без турникетов"
Всероссийская акция «Неделя без турникетов» традиционно прошла на предприятии с 16 по 22 октября 2017 года

24.05.2017

Расширение линейки герконов в пластмассовом корпусе!
Специалисты АО «РЗМКП» представляют Вашему вниманию новинки 2017 года