Ion-Plasma Treatment of Reed Switch Contacts: A Study by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Ion-Plasma Treatment of Reed Switch Contacts: A Study by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

03.12.2014

A TOF.SIMS-5 time-of-flight secondary ion mass spectrometer operating with pulsed 25-keV B iions for analysis and 2 keV Cs+ ions for sputter ion-beam etching was employed for studying the near-surface composition of iron–nickel (permalloy) contacts (blades) after the treatment in pulsed nitrogen plasma directly in hermetically sealed reed switches. The formation of 20- to 25-nm thick oxynitride coatings in the contacting region of the blades was observed. It was found that this coating was of the diffusive nature and produced via the plasma nitriding of the contacts.


← К списку публикаций

 

Система менеджмента качества сертифицирована DIN EN ISO 9001-2008 № 15 100 21437

В составе холдинга Росэлектроника

«Горячая линия» - система сбора информации для борьбы с мошенничеством, хищениями и коррупцией

Новости

27.10.2017

"Неделя без турникетов"
Всероссийская акция «Неделя без турникетов» традиционно прошла на предприятии с 16 по 22 октября 2017 года

24.05.2017

Расширение линейки герконов в пластмассовом корпусе!
Специалисты АО «РЗМКП» представляют Вашему вниманию новинки 2017 года