Ion-Plasma Treatment of Reed Switch Contacts: A Study by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Ion-Plasma Treatment of Reed Switch Contacts: A Study by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

03.12.2014

A TOF.SIMS-5 time-of-flight secondary ion mass spectrometer operating with pulsed 25-keV B iions for analysis and 2 keV Cs+ ions for sputter ion-beam etching was employed for studying the near-surface composition of iron–nickel (permalloy) contacts (blades) after the treatment in pulsed nitrogen plasma directly in hermetically sealed reed switches. The formation of 20- to 25-nm thick oxynitride coatings in the contacting region of the blades was observed. It was found that this coating was of the diffusive nature and produced via the plasma nitriding of the contacts.


← К списку публикаций

 

Система менеджмента качества сертифицирована ISO 9001:2015

В составе холдинга Росэлектроника

«Горячая линия» - система сбора информации для борьбы с мошенничеством, хищениями и коррупцией

Новости

22.04.2019

Всероссийская акция «Неделя без турникетов»
С 15.04.2019 г. по 21.04.2019 г. предприятие приняло участие во Всероссийской акции «Неделя без турникетов». Основной целью проведения данной акции было дальнейшее знакомство школьников и студентов с предприятием и профессиями, востребованными в производстве магнитоуправляемых контактов и солнечных модулей, с рабочими местами и условиями труда.

17.01.2019

РЗМКП обновил собственный рекорд по продажам герконов
За 12 месяцев 2018 года было продано 218 миллионов штук герконов различных модификаций